作者：Gustavo Castro，系統應用工程師

摘要

【資料圖】

要測試精密儀器儀表，需要使用超低失真、低噪聲、高性能的信號發生器。新的產品通常需要保證性能指標在較高的水平。有些參考設計（例如ADMX1002）利用高性能精密數模轉換器(DAC)簡化了這一任務，這些轉換器具有出色的精度和分辨率水平。1此外，加入一種創新數字預失真算法可以進一步增強測試信號的保真度，從而以低成本的小尺寸實現出色的低失真信號。

簡介

隨著精密模數轉換器(ADC)和高保真音頻設備（CODEC、MEMS麥克風等）不斷發展，越來越需要在自動化測試設備(ATE)中生成高性能的音頻和任意信號。要描述、驗證和測試這些設備的直流和交流特性，需要使用多種高性能儀器儀表，這導致開發和生產測試成本增加，有時候會令人望而卻步或限制測試覆蓋范圍。

在可能的情況下，測試工程師會開發內部解決方案作為替代方案，但這種做法非常耗費時間和資源。有些參考設計，例如ADMX1002超低失真信號發生器模塊，旨在提供一種替代方案，以加快這一開發過程。

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ADMX1002解決了硬件和嵌入式軟件開發挑戰。除了通過簡單的串行接口簡化設計復雜性以外，它還可以自動生成多個正弦波和任意波形。此外，通過采用創新的數字預失真算法，ADMX1002進一步提高了信號鏈中的DAC和放大器性能。

高性能混合信號測試需求

現代ADC和其他混合信號器件經常需要使用一個源來測試高性能直流和交流特性。在所有情況下，源的性能都必須優于被測設備(DUT)的性能。

執行直流測試是為了確保無失碼，并且驗證差分非線性(DNL)、積分非線性(INL)、偏置和增益誤差。這些測試需要利用低噪聲和高分辨率的直流耦合單發線性信號（例如斜坡信號）來表征INL和DNL性能。在這種類型的測試中，需要達到高分辨率，以便執行ADC中的所有可用代碼。

交流測試驗證總諧波失真(THD)、信納比(SINAD)和無雜散動態范圍(SFDR)等參數。這些測試通常使用超高質量的信號音（正弦波）進行，這意味著，其中不能包含高于目標規格的任何諧波成分。為了完成這項任務，測試工程師可以采用定制的濾波器來消除測試信號中不需要的失真產物，但這會增加系統的復雜性和成本。但是，來自源的寬帶噪聲很難在相關信號周圍進行濾波。來自源的噪聲需要低于被測ADC的本底噪聲，確保不會降低預期的測量目標。

下方的數據手冊匯總列出了高性能ADC的發布規格：AD4020/AD4021/AD4022、ADAQ23878和AD7134，如表1所示。根據此表，可以看出，我們的目標是得出優于–123 dBc的THD。

表1.高性能精密ADC規格示例